產(chǎn)品介紹

　　SG-A 可提供最完整的CMOS圖像傳感器參數(shù)量測分析，例如全光譜量子效率（QE）、整體系統(tǒng)增益（K）、時間暗噪聲、信噪比、絕對靈敏度閾值、飽和容量、動態(tài)范圍、暗訊號非均勻性 （DSNU）、光響應(yīng)非均勻性 （PRNU）、線性誤差和主光線角度 （CRA）。

　　待測元件可以是多種類型的 CMOS 影像感測器模塊。 檢測程序符合EMVA 1288標(biāo)準(zhǔn)。

　　因此，SG-A CMOS影像傳感器測試儀可用于進(jìn)行晶圓級光學(xué)檢查、工藝參數(shù)控制、微透鏡設(shè)計(jì)、微透鏡驗(yàn)證。 SG-A CMOS 影像傳感器測試儀的高準(zhǔn)直光束 （< 1°） 可以克服傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)（如積分球系統(tǒng)）無法解決的新制造工藝的檢測難題。

　　這些制成包括小像素（< 1微米）、BSI和3D堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設(shè)計(jì)等。

特色

● 無損光學(xué)檢測

  ● 高準(zhǔn)直光束角度;<0.05°、 <0.1°、 <0.5°、 <1°、 <3°（不同型號）。

  ● 高均勻光斑：≥ 99%。

  ● 光源不穩(wěn)定度≤1%。

  ● 高動態(tài)范圍測試能力：80dB~140dB（不同型號）。

  ● 可測試 CMOS 圖像傳感器參數(shù)：量子效率、光譜響應(yīng)、系統(tǒng)增益、靈敏度、動態(tài)范圍、暗電流/噪聲、訊噪比、飽和容量、線性誤差 （LE）、暗電流非均勻性 （DCNU）、光響應(yīng)非均勻性 （PRNU）、主光線角度 （CRA）。

  ● 全光譜波長范圍：300nm-1100nm 或 350nm~1000nm（依型號而定）。

  ● 波長可擴(kuò)展至1700nm或更長。

  ● 待測元件封裝：CIS 模組、PCB 板級、CIS 相機(jī)，含/不含微透鏡。

  ● SG-A 與待測元件之間可透過「直接通訊」或「握手通訊」進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。

  ● 客制化測試夾具和平臺（手動或自動，最多 6 軸）。

  ● 功能強(qiáng)大的分析軟件ARGUS®。

  ● 應(yīng)用：指紋辨識（CIS+鏡頭、CIS+準(zhǔn)直器、TFT陣列感測器）、CIS微透鏡設(shè)計(jì)、晶圓級光學(xué)檢測、CIS DSP芯片算法開發(fā)、硅基TFT感測器面板、飛行時間相機(jī)感測器、近接感測器（量子效率、靈敏度、線性度、訊噪比等）、d-ToF 感測器、i-ToF 感測器、多光譜感測器、環(huán)境光感測器（ALS）、屏幕下指紋識別 （FoD） 感測器。

系統(tǒng)設(shè)計(jì)

規(guī)格

SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀功能強(qiáng)大，因此相關(guān)規(guī)格和配件非常齊全

以下為主要功能規(guī)格：

  ● 全光譜波長范圍：300-1100nm 或 350-1000nm （PTC）
  ● 波長范圍可擴(kuò)展至 1700nm 或更高。
  ● 單一波長光源：470nm、530nm、630nm、940nm （±5nm） 或定制
  ● 動態(tài)范圍：80dB、100dB 或 140dB
  ● 測試夾具：DUT≤ 100mm x 100mm x 30mm（高）[Basic type] 或定制
  ● 平臺：非、手動 3 軸或 6 軸（手動 + 自動）平臺（可定制）

應(yīng)用

光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于：

 ● 指紋識別：（CIS+鏡頭、CIS+準(zhǔn)直器、TFT-陣列傳感器）

 ● CIS的微透鏡設(shè)計(jì)，晶圓級光學(xué)檢查

 ● CIS DSP芯片的算法開發(fā)

 ● Si TFT傳感器面板

 ● 飛行時間相機(jī)傳感器

 ● 近距離傳感器：（量子效率、靈敏度、線性度、SNR等）

 ● d-ToF傳感器、i-ToF傳感器

 ● 多光譜傳感器

 ● 環(huán)境光傳感器：（ALS）

 ● 指紋顯示（FoD）傳感器